優(yōu)學云測評推出中小學生快速提分方案

近期，優(yōu)學云測評系統(tǒng)針對中小學生學習成績問題推出“測—評—提”快速提分方案。該方案運用“閃測”技術，從全面掃描學生知識點，精準定位學生知識點漏洞開始，對學生進行學科分析、考試成績分析、學習軌跡分析等，最后依據(jù)科學的分析報告，學生可以進行針對性的學習，快速提升考試成績。同時老師也可將該方案應用于教學中，及時了解學生知識點掌握情況，調(diào)整教學安排。

“閃測”技術是基于梳理的知識點，學生通過自我評價的方式在有限的時間內(nèi)迅速判斷出自己是否掌握某一知識點，后再與學生實際的掌握情況做出對比，快速查找學科上知識點漏洞的測評方法。該方法可以幫助學生精準定位知識點漏洞，幫助學生分析原因，從而制定出個性化的學習方案。